Scanning probe microscopy atomic scale engineering by forces and currents

Literaturangaben

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Foster, Adam (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Hofer, Werner (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: New York, NY, Heidelberg Springer 2006
Schriftenreihe:NanoScience and technology
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Beschreibung
Zusammenfassung:Literaturangaben
Beschreibung:XIV, 281 S.
Ill., graph. Darst.
ISBN:9780387400907
978-0-387-40090-7
9781441923066
978-1-4419-2306-6
0387400907
0-387-40090-7