Scanning probe microscopy atomic scale engineering by forces and currents

Literaturangaben

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Foster, Adam (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Hofer, Werner (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	New York, NY, Heidelberg Springer 2006
Schriftenreihe:	NanoScience and technology
Schlagworte:	Scanning probe microscopy > Rastersondenmikroskopie
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis Cover Table of contents only
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!