IPACK2022-98800 Experimental Probing of the Bias Dependent Self-Heating in AIGAaN/GaN HEMTs With a Transparent Indium Tin Oxide Gate

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	ASME International Technical Conference and Exhibition on Packaging and Integration of Electronic and Photonic Microsystems (2022 : Garden Grove, Calif.) Proceedings of ASME 2022 International Technical Conference and Exhibition on Packaging and Integration of Electronic and Photonic Microsystems (InterPACK 2022)
1. Verfasser:	Karim, Anwarul (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Kim, Tae Kyoung (VerfasserIn), Shoemaker, Daniel (VerfasserIn), Song, Yiwen (VerfasserIn), Kwak, Joon Seop (VerfasserIn), Choi, Sukwon (VerfasserIn)
Pages:	2022
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2022
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