IPACK2022-97338 Evaluation of Electromigration Coupling Different Physics Fields in Numerical Simulation

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	ASME International Technical Conference and Exhibition on Packaging and Integration of Electronic and Photonic Microsystems (2022 : Garden Grove, Calif.) Proceedings of ASME 2022 International Technical Conference and Exhibition on Packaging and Integration of Electronic and Photonic Microsystems (InterPACK 2022)
1. Verfasser:	Cai, Chongyang (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Xu, Jiefeng (VerfasserIn), Lai, Yangyang (VerfasserIn), Yang, Junbo (VerfasserIn), Wang, Huayan (VerfasserIn), Ramalingam, Suresh (VerfasserIn), Refai-Ahmed, Gamal (VerfasserIn), Park, Seungbae (VerfasserIn)
Pages:	2022
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2022
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