Development of High-speed X-ray CT Inspection System Using X-ray Line Sensor

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	2013 IEEE CPMT Symposium Japan (formerly VLSI Packaging Workshop of Japan)
1. Verfasser:	Suzuki, Daisuke (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Noguchi, Kenji (VerfasserIn), Murakoshi, Takayuki (VerfasserIn), Teramoto, Atsushi (VerfasserIn)
Pages:	2013
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2013
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