Failure analysis of electric circuit board by high resolution magnetic field microscopy

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	2013 IEEE CPMT Symposium Japan (formerly VLSI Packaging Workshop of Japan)
1. Verfasser:	Mima, Yuki (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Oyabu, Noriaki (VerfasserIn), Inao, Takeshi (VerfasserIn), Kimur, Noriaki (VerfasserIn), Kimura, Kenjiro (VerfasserIn)
Pages:	2013
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2013
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