The effect of surface roughness on high frequency transmission line

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	2013 IEEE CPMT Symposium Japan (formerly VLSI Packaging Workshop of Japan)
1. Verfasser:	Iwai, Toshiki (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Mizutani, Daisuke (VerfasserIn), Tani, Motoaki (VerfasserIn)
Pages:	2013
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2013
Schlagworte:
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!