Präparation von beschichteten Durchkontaktierungen an Siliziumwafern

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Veröffentlicht in:	Fortschritte in der Metallographie
1. Verfasser:	Kraft, T. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	VVarnat, S. (VerfasserIn), Reiter, K. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2008
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Titel	Jahr	Verfasser
Vergleichende Untersuchungen zur Charakterisierung der Verbindungsschicht beim Nitrocarburieren	2008	Wilke, Marcus
Präparation von beschichteten Durchkontaktierungen an Siliziumwafern	2008	Kraft, T.
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Herausforderungen bei der Präparation von metallischen Hybridwerkstoffen	2008	Schiffl, A.
Einfluss des Schweißens auf die Hochglanzpolier- und Narbeignung eines kupferlegierten martensitaushärtbaren Kunststofformenstahles	2008	Ernst, C.
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Röntgen-Computertomografie der Verformungsporen in Warmzugproben aus Baustahlbrammen	2008	Hochegger, M.
Ursache und Wirkung von Sigma-Phasenausscheidungen bei thermischer Wechselbelastung eines Abgaskrümmers aus 1.4828 (X15CrNiSi20-12)	2008	Hartmann, S.
Einsatz der TEM-Tomographie für Prozesscharakterisierung und Fehleranalyse bei der Herstellung von Mikroprozessoren	2008	Uteß, D.
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