Nano-Computertomographie - ein werlvolles Hilfsmittel bei metallographischen Untersuchungen zur Schadensanalyse mikroelektronischer und mikrotechnischer Komponenten

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Fortschritte in der Metallographie
1. Verfasser:	Faust, W. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Noack, E. (VerfasserIn), Michel, B. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2008
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