Fabrication and Electrical Characterization of Parylene-HT Liner Bottom-up Copper Filled Through Silicon Via (TSV)

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:2014 IEEE CPMT Symposium Japan (ICSJ 2014)
1. Verfasser: Tung, Bui Thanh (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Cheng, Xiaojin (VerfasserIn), Watanabe, Naoya (VerfasserIn), Kato, Fumiki (VerfasserIn), Kikuchi, Katsuya (VerfasserIn), Aoyagi, Masahiro (VerfasserIn)
Pages:2014
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2014
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Beschreibung
ISBN:9781479961962