Study of the insertion loss of a differential pair of through holes for the 25Gbps serial interconnect

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	2012 2nd IEEE CPMT Symposium Japan
1. Verfasser:	Shinkai, Go (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Muraoka, Satoshi (VerfasserIn), Yagu, Masayoshi (VerfasserIn), Uematsu, Yutaka (VerfasserIn), Osaka, Hideki (VerfasserIn)
Pages:	2012 2
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2012
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