Rietveld refinement practical powder diffraction pattern analysis using TOPAS
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Format: | UnknownFormat |
Sprache: | eng |
Veröffentlicht: |
Berlin, Boston
De Gruyter
2019
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Schriftenreihe: | De Gruyter STEM
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Schlagworte: | |
Online Zugang: | Inhaltsverzeichnis Inhaltstext |
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Beschreibung: | Literaturangaben |
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Beschreibung: | XVI, 331 Seiten Illustrationen, Diagramme 24 cm x 17 cm |
ISBN: | 9783110456219 978-3-11-045621-9 3110456214 3-11-045621-4 |