Special section on IOLTS 2016

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (VerfasserIn), Institute of Electrical and Electronics Engineers (Herausgebendes Organ)
Weitere Verfasser: Gizopoulos, Dimitris (HerausgeberIn), Alexandrescu, Dan (HerausgeberIn), Nicolaidis, Michael (HerausgeberIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Piscataway, NJ IEEE 2017
Schriftenreihe:IEEE transactions on device and materials reliability volume 17, number 1 (March 2017)
Schlagworte:
Konferenzschrift
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Beschreibung
Beschreibung:"This special section of IEEE transactions on device and materials reliability includes a collection of the best papers of the latest (2016) edition of an established IEEE symposium which focuses for more than two decades on the challenges and solutions for electronic circuits and systems on-line testing and fault tolerance.Held for 21 years as the IEEE International On-Line Testing Symposium it was renamed in 2016 to International On-Line Testing and Robust Systems Design Symposium keeping its well recognized acronym IOLTS." - Vorwort
Datum und Ort des Symposiums: 04.-06. Juli 2016 in San Feliú de Guixols
Beschreibung:51 Seiten
Illustrationen