Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications IV 12-14 October 2016, Beijing, China

Bibliographische Detailangaben

Körperschaften:	Conference on Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications (VerfasserIn), SPIE (SponsorIn), Zhong guo guang xue xue hui (SponsorIn)
Weitere Verfasser:	Han, Sen (HerausgeberIn), Yoshizawa, Toru (HerausgeberIn), Zhang, Song (HerausgeberIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Bellingham, Washington, USA SPIE 2016
Schriftenreihe:	Proceedings of SPIE volume 10023
Schlagworte:	Konferenzschrift > Optische Messtechnik
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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