Special issue on analog, mixed-signal and RF testing

Bibliographische Detailangaben

Körperschaft:	IEEE International Mixed-Signal Testing Workshop (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Barragan, Manuel J. (HerausgeberIn), Eisenstadt, William R. (HerausgeberIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	New York Springer 2017
Schriftenreihe:	Journal of electronic testing volume 33, number 3 (June 2017)
Schlagworte:	Konferenzschrift
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