Special issue on analog, mixed-signal and RF testing

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: IEEE International Mixed-Signal Testing Workshop (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Barragan, Manuel J. (HerausgeberIn), Eisenstadt, William R. (HerausgeberIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: New York Springer 2017
Schriftenreihe:Journal of electronic testing volume 33, number 3 (June 2017)
Schlagworte:
Konferenzschrift
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Beschreibung
Beschreibung:Enthält Beiträge der folgenden Veranstaltung: "21st International Mixed-Signal Testing Workshop (IMSTW 2016), held in Sant Feliú de Guíxols, Spain 4-6 July 2016" - Vorwort
Literaturangaben
Beschreibung:Seite 275-375
Diagramme, Illustrationen