Conductive atomic force microscopy applications in nanomaterials
Gespeichert in:
| Weitere Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | UnknownFormat |
| Sprache: | eng |
| Veröffentlicht: |
Weinheim
Wiley-VCH
2017
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| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | Inhaltsverzeichnis http://www.wiley-vch.de/publish/dt/books/ISBN978-3-527-34091-0/ Cover Beschreibung & Leseprobe |
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| Beschreibung: | Literaturangaben |
|---|---|
| Beschreibung: | xix, 361 Seiten Illustrationen (teilweise farbig), Diagramme (teilweise farbig) 25 cm |
| ISBN: | 3527340912 3-527-34091-2 9783527340910 978-3-527-34091-0 |