Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis

Electron beam-specimen interactions -- Backscattered electrons -- Secondary electrons -- X-rays -- SEM instrumentation -- Image formation -- SEM image interpretation -- The visibility of features in SEM images -- Image defects -- High resolution imaging -- Low beam energy SEM -- Variable pressure SE...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Goldstein, Joseph (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Newbury, Dale E. (VerfasserIn), Michael, Joseph R. (VerfasserIn), Ritchie, Nicholas W. M. (VerfasserIn), Scott, John Henry J. (VerfasserIn), Joy, David C. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	New York, NY, U.S.A. Springer 2018
Ausgabe:	Fourth edition
Schlagworte:	Scanning electron microscopy > X-ray microanalysis > Elektronenstrahlmikroanalyse > Rasterelektronenmikroskopie > Röntgenstrahlmikroanalyse
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis Cover Verlags-Info
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