Development of the yield-based process capability index, Cpy, to flexibly and accurately measure conformance

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	International journal of quality & reliability management
1. Verfasser:	Kenyon, George N. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Sale, R. Samual (VerfasserIn), Hozak, Kurt (VerfasserIn), Chiou, Paul (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2016
Schlagworte:	Aufsatz in Zeitschrift
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