16th International Conference on Defects, Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft:	International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Yang, Deren (HerausgeberIn), Xu, Ke (HerausgeberIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Amsterdam, Boston, London Elsevier 2016
Schriftenreihe:	Superlattices and microstructures volume 99 (November 2016)
Schlagworte:	Konferenzschrift
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Beschreibung
Beschreibung:	"The 16th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP-XVI) was held at the Worldhotel Grand Dushulake in Suzhou, China from 6th to 10th September 2015" - Vorwort Literaturangaben
Beschreibung:	235 Seiten Illustrationen