"Investigation and surface characterization of InAsSbP-, Si- und Ge nanostructures for mid-infrared and thermoelectric applications" : final report

"Investigation and surface characterization of InAsSbP-, Si- und Ge nanostructures for mid-infrared and thermoelectric applications" final report

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: Erevani Petakan Hamalsaran (Herausgebendes Organ), Leibniz-Institut für Kristallzüchtung (Herausgebendes Organ), Paul-Drude-Institut für Festkörperelektronik (Herausgebendes Organ)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: Berlin Leibniz-Institute for Crystal Growth (IKZ) 2014
Schlagworte:
Forschungsbericht
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