VLSI-SoC: design for reliability, security, and low power 23rd IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2015, Daejeon, Korea, October 5-7, 2015 : revised selected papers

Bibliographische Detailangaben

Körperschaften:	IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VerfasserIn), International Federation for Information Processing Working Group Design and Engineering of Electronic Systems (Herausgebendes Organ)
Weitere Verfasser:	Shin, Youngsoo (HerausgeberIn), Tsui, Chi Ying (HerausgeberIn), Kim, Jae-Joon (HerausgeberIn), Choi, Kiyoung (HerausgeberIn), Reis, Ricardo (HerausgeberIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Cham Springer 2016
Schriftenreihe:	IFIP advances in information and communication technology 483
Schlagworte:	Konferenzschrift
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis Full Text
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