8th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies: Subnanometer Accuracy Measurement for Synchrotron Optics and X-Ray Optics 26 - 29 April 2016, Suzhou, China

Bibliographische Detailangaben

Körperschaften:	AOMATT (VerfasserIn), Zhong guo guang xue xue hui (SponsorIn), Zhongguo ke xue yuan Guang dian ji shu yan jiu suo (SponsorIn), SPIE (SponsorIn)
Weitere Verfasser:	Qian, Shinan (HerausgeberIn), Idir, Mourad (HerausgeberIn), Cocco, Daniele (HerausgeberIn), Xiao, Tiqiao (HerausgeberIn), Yamauchi, Kazuto (HerausgeberIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Bellingham, Washington, USA SPIE 2016
Schriftenreihe:	Proceedings of SPIE volume 9687
Schlagworte:	Konferenzschrift > Synchrotronstrahlung > Röntgenoptik > Präzisionsmessung > Pikometerbereich
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!