Advances in x-ray analysis, volume 59 proceedings of the 64th Annual Conference on Applications of X-ray Analysis (Denver X-ray Conference) and the 16th International Conference on Total Reflection X-ray Fluorescence Analysis and Related Methods (TXRF 2015) : 3-7 August 2015 at the Westin Westminster, Westminster, Colorado, U.S.A.

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaften:	Annual Conference on Applications of X-ray Analysis (VerfasserIn), International Centre for Diffraction Data (VeranstalterIn), International Conference on Total Reflection X-ray Fluorescence Analysis and Related Methods (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Blanton, Thomas (HerausgeberIn), Brehm, Lora (HerausgeberIn), Zaitz, Mary Ann (HerausgeberIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Newton Square, Pennsylvania International Centre for Diffraction Data 2016
Schlagworte:	Konferenzschrift > Röntgenstrahlung > Röntgenstrukturanalyse > Röntgenspektralanalyse
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