Advances in x-ray analysis, volume 59 proceedings of the 64th Annual Conference on Applications of X-ray Analysis (Denver X-ray Conference) and the 16th International Conference on Total Reflection X-ray Fluorescence Analysis and Related Methods (TXRF 2015) : 3-7 August 2015 at the Westin Westminster, Westminster, Colorado, U.S.A.

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: Annual Conference on Applications of X-ray Analysis (VerfasserIn), International Centre for Diffraction Data (VeranstalterIn), International Conference on Total Reflection X-ray Fluorescence Analysis and Related Methods (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Blanton, Thomas (HerausgeberIn), Brehm, Lora (HerausgeberIn), Zaitz, Mary Ann (HerausgeberIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Newton Square, Pennsylvania International Centre for Diffraction Data 2016
Schlagworte:
Konferenzschrift > Röntgenstrahlung > Röntgenstrukturanalyse > Röntgenspektralanalyse
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Beschreibung
Beschreibung:Literaturangaben
Beschreibung:1 CD-ROM
Illustrationen
12 cm
Format:Systemvoraussetzungen: Microsoft Windows XP, Vista, 7, 8, 8.1, 10, Mac OS.