In-Situ-Zustandsüberwachung von IGBT-Leistungshalbleitern mittels Echtzeit-Sperrschichttemperaturmessung

Dissertation, Universität Bayreuth, 2016

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Denk, Marco (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Bakran, Mark-Matthias (AkademischeR BetreuerIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: München Verlag Dr. Hut 2016
Ausgabe:1. Auflage
Schlagworte:
Online Zugang:Inhaltstext
Inhaltsverzeichnis
http://www.dr.hut-verlag.de/978-3-8439-2625-6.html
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Beschreibung
Zusammenfassung:Dissertation, Universität Bayreuth, 2016
Beschreibung:xx, 118, XXVII S.
Illustrationen, Diagramme
24 cm x 17 cm, 323 g
ISBN:3843926255
3-8439-2625-5
9783843926256
978-3-8439-2625-6