Elektromagnetische Zuverlässigkeit und elektronische Systeme für eMobility-Anwendungen BMBF-Verbundprojekt EM4EM : Teilvorhaben: Erforschung von Entwurfsmethoden zur Verbeserung der EMZ-Eigenschaften von zukünftigen Sensorsystemen : Berichtszeitraum: 1. Oktober 2011-31. März 2015 : Ausführende Stelle: NXP Semiconductors German GmbH, Thomas Hain, Principal System Architect, Business Line Sensors - BU Autonomie = Development of methologies for increase of EMR performance of future sensor-systems

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Hain, Thomas (VerfasserIn)
Körperschaft:	NXP Semiconductors Germany (Herausgebendes Organ)
Weitere Verfasser:	Stork, Thomas (VerfasserIn), Schulz-Mewes, Gunnar (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Hamburg NXP Semiconductors Germany GmbH 18. November 2015
Schlagworte:	Forschungsbericht > Elektrofahrzeug > Elektromagnetische Verträglichkeit > Bordnetz > Sensorsystem > Simulation
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Beschreibung
Beschreibung:	Förderkennzeichen BMBF16M3092G. - Verbund-Nr. 01104725 Unterschiede zwischen dem gedruckten Dokument und der elektronischen Ressource können nicht ausgeschlossen werden Paralleltitel dem englischen Berichtsblatt entnommen Autoren dem Berichtsblatt entnommen Literaturverzeichnis: Seite 18
Beschreibung:	18 Seiten, 2 ungezählte Blätter Diagramme