Special section International Electron Devices and Materials Symposium 2014

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft:	International Electron Devices and Materials Symposium (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Lin, Chu-Hsuan (HerausgeberIn), Liou, Juin J. (HerausgeberIn), Lin, Chun-Chieh (HerausgeberIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Amsterdam, Boston, London Elsevier 2015
Schriftenreihe:	Microelectronics reliability volume 55, issue 11 (November 2015)
Schlagworte:	Konferenzschrift
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