Special section International Electron Devices and Materials Symposium 2014

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft:	International Electron Devices and Materials Symposium (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Lin, Chu-Hsuan (HerausgeberIn), Liou, Juin J. (HerausgeberIn), Lin, Chun-Chieh (HerausgeberIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Amsterdam, Boston, London Elsevier 2015
Schriftenreihe:	Microelectronics reliability volume 55, issue 11 (November 2015)
Schlagworte:	Konferenzschrift
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Beschreibung
Beschreibung:	"The special issue of Microelectronics reliability is devoted to the publication of papers presented at 2014 International Electron Devices and Materials Symposium (IEDMS 2014) held in Hualien, Taiwan during Nov. 20-21, 2014." - Vorwort "11 papers were selected to be included in his special issue." - Vorwort Literaturangaben
Beschreibung:	Seite 2173-2235 Illustrationen