2014 IEEE Far East Forum on Nondestructive Evaluation/Testing (FENDT 2014) : Chengdu, China, 20 - 23 June 2014

2014 IEEE Far East Forum on Nondestructive Evaluation/Testing (FENDT 2014) Chengdu, China, 20 - 23 June 2014

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Institute of Electrical and Electronics Engineers (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Xu, Chunguang (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Piscataway, NJ IEEE 2014
Schlagworte:
Konferenzschrift
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Beschreibung:Kongr.-Thema: Increasingly perfect NDT/E
Literaturangaben
Beschreibung:367 S.
Ill., graph. Darst.
ISBN:9781479947294
978-1-4799-4729-4