Optische Erfassung von Defekten mittels multiskaliger Mess- und Inspektionstechnik

Dissertation, Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover, 2014

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Krauß, Moritz (VerfasserIn)
Körperschaft: Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover (Grad-verleihende Institution)
Weitere Verfasser: Reithmeier, Eduard (AkademischeR BetreuerIn), Bergmann, Ralf B. (AkademischeR BetreuerIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: Hannover 2015
Schlagworte:
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Zusammenfassung:Dissertation, Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover, 2014
Multiskale Messtechnik, 6DOF, Inspektion, Lasertracker, 3D Messtechnik, Bildverarbeitung. - Multi-scale measurement, inspection, 3D measurement, image processing
Beschreibung:Literaturverzeichnis: Seiten 113-123
Beschreibung:v, 125 Seiten
Illustrationen