Proceedings of the XII International Symposium on Electron Beam Ion Sources and Traps East Lansing, Michigan, USA, 18-21 May 2014

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft:	International Symposium on Electron Beam Ion Sources and Traps (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Lapierre, Alain (HerausgeberIn), Schwarz, Stefan (HerausgeberIn), Baumann, Thomas M. (HerausgeberIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Melville, New York AIP Publishing 2015
Schriftenreihe:	AIP proceedings Volume 1640 Conference collection
Schlagworte:	Konferenzschrift > Elektronenstrahlionenquelle > Ionenfalle
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis Abstracts
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