Proceedings of the XII International Symposium on Electron Beam Ion Sources and Traps : East Lansing, Michigan, USA, 18-21 May 2014

Proceedings of the XII International Symposium on Electron Beam Ion Sources and Traps East Lansing, Michigan, USA, 18-21 May 2014

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Symposium on Electron Beam Ion Sources and Traps (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Lapierre, Alain (HerausgeberIn), Schwarz, Stefan (HerausgeberIn), Baumann, Thomas M. (HerausgeberIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Melville, New York AIP Publishing 2015
Schriftenreihe:AIP proceedings Volume 1640
Conference collection
Schlagworte:
Konferenzschrift > Elektronenstrahlionenquelle > Ionenfalle
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
Abstracts
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Beschreibung
Beschreibung:All papers have been peer reviewed. - Sponsoring organizations: National Superconducting Cyclotron Laboratory, Facility for Rare Isotope Beams, Michigan State University
Beschreibung:V, 160 Seiten
Illustrationen, Diagramme
29 cm
ISBN:9780735412798
978-0-7354-1279-8