Automated visual inspection and machine vision : 24 June 2015, Munich, Germany ; [part of SPIE optical metrology]

Automated visual inspection and machine vision 24 June 2015, Munich, Germany ; [part of SPIE optical metrology]

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: European Optical Society (BerichterstatterIn), Wissenschaftliche Gesellschaft Lasertechnik (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Beyerer, Jürgen (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE 2015
Schriftenreihe:Proceedings of SPIE 9530
Schlagworte:
Konferenzschrift
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Beschreibung:Literaturangaben
Beschreibung:Getr. Zählung, [ca. 230] S.
Ill., graph. Darst.
ISBN:9781628416909
978-1-62841-690-9