Random pattern testability

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Savir, J. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Ditlow, G. (VerfasserIn), Bardell, P. H. (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Yorktown Heights, NY IBM Thomas J. Watson Research Center 1982
Schriftenreihe:Research report / IBM Thomas J. Watson Research Center RC 9643 = 42605
Computer science
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Beschreibung
Beschreibung:11 S.
graph. Darst.