Design error diagnosis in logic circuits using ternary test sets

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Wahba, Ayman (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Déharbe, David (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Grenoble 1993
Schriftenreihe:	Rapport de recherche / Institut IMAG, Informatique et Mathématiques Appliquées de Grenoble 928
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