A mathematical programming approach for optimizing control plans in semiconductor manufacturing

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:International journal of production economics
Weitere Verfasser: Nduhura Munga, Justin (BerichterstatterIn), Dauzère-Péres, Stéphane (BerichterstatterIn), Yugma, Claude (BerichterstatterIn), Vialletelle, Philippe (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2015
Schlagworte:
Control plan > Semiconductor manufacutring > Dynamic sampling > Risk > Defectivity > Integer linear programming > Aufsatz in Zeitschrift
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Beschreibung
Beschreibung:graph. Darst.
ISSN:0925-5273