Siliciumcarbid-Technologie für robuste Sensoren unter rauen Umgebungsbedingungen - Charakterisierung und Zuverlässigkeit SiC-Tech ; Abschlussbericht KIT/IAM ; Spitzencluster-Wettbewerb ; Micro TEC Südwest: SiC-Tech ; Schlussbericht KIT ; Berichtszeitraum/Projektlaufzeit: 01.07.2010 - 30.06.2014

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Leisen, Daniel (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Riesch-Oppermann, Heinz (VerfasserIn), Kraft, Oliver (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Eggenstein-Leopoldshafen Karlsruher Inst. für Technologie (KIT), Inst. Angewandte Materialien (IAM) 2014
Schlagworte:	Forschungsbericht > Sensortechnik > Siliciumcarbid
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