Siliciumcarbid-Technologie für robuste Sensoren unter rauen Umgebungsbedingungen - Charakterisierung und Zuverlässigkeit SiC-Tech ; Abschlussbericht KIT/IAM ; Spitzencluster-Wettbewerb ; Micro TEC Südwest: SiC-Tech ; Schlussbericht KIT ; Berichtszeitraum/Projektlaufzeit: 01.07.2010 - 30.06.2014

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Leisen, Daniel (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Riesch-Oppermann, Heinz (VerfasserIn), Kraft, Oliver (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: Eggenstein-Leopoldshafen Karlsruher Inst. für Technologie (KIT), Inst. Angewandte Materialien (IAM) 2014
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Beschreibung
Beschreibung:Förderkennzeichen BMBF 16SV5126. - Verbund-Nr. 01079541
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Beschreibung:9 Bl., Bl. 44-45
Ill.