X-ray scattering from semiconductors and other materials

An introduction to semiconductor materialsThe theory of X-ray scattering -- Components for measuring scattering patterns -- Instruments for measuring scattering patterns -- A practical guide to the estimation of structural parameters and interpretation of scattering patterns.

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Fewster, Paul F. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Singapore u.a. World Scientific 2015
Ausgabe:	3. ed.
Schlagworte:	X-rays > Scattering > Semiconductors > Röntgenstreuung > Halbleiter
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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