Advances in x-ray analysis, volume 57 proceedings of the 62nd Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis (Denver X-Ray Conference), 5 - 9 August 2013, The Westin Westminster, Westminster, Colorado, U.S.A.

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft:	International Centre for Diffraction Data (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Blanton, Thomas (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Newton Square, Pa. ICDD 2014
Schlagworte:	Konferenzschrift > CD-ROM > Röntgenstrahlung > Röntgenstrukturanalyse > Röntgenspektralanalyse
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Beschreibung
Beschreibung:	Literaturangaben
Beschreibung:	1 CD-ROM 12 cm
Format:	Systemvoraussetzungen: Acrobat reader 7.0 or later for viewing PDF content, free Adobe Flash Player for multimedia content.