The trace model for spatial invariance with applications in structured pattern recognition, image patch matching and incremental visual tracking Das Spurmodell für räumliche Invarianz mit Anwendungen in der Erkennung strukturierter Muster, der Assoziation von Bildregionen und dem bildbasierten, schrittweisen Verfolgen von Objekten

Zugl.: Erlangen-Nürnberg, Univ., Diss., 2013

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Ernst, Jan (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Aachen Shaker 2014
Schriftenreihe:Berichte aus der Informatik
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Beschreibung
Zusammenfassung:Zugl.: Erlangen-Nürnberg, Univ., Diss., 2013
Beschreibung:126 S.
Ill., graph. Darst.
21 cm, 189 g
ISBN:9783844030563
978-3-8440-3056-3