Development of a metrological management model using the AHP and SEM techniques

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	International journal of quality & reliability management
Weitere Verfasser:	Beltrán, Jaime (BerichterstatterIn), Muñuzuri, Jesús (BerichterstatterIn), Rivas, Miguel (BerichterstatterIn), Martín, Enrique (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2014
Schlagworte:	AHP > Structural equations > Metrological management > Multicriteria analysis > AHP technique > SEM technique > Aufsatz in Zeitschrift
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Beschreibung
Beschreibung:	graph. Darst.
ISSN:	0265-671X