The EDMR microscope: combining conductive atomic force microscopy with electrically detected magnetic resonance

Zugl.: München, Techn. Univ., Fakultät für Physik, Diss., 2014

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Klein, Konrad (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Garching Verein zur Förderung des Walter Schottky Instituts 2014
Ausgabe:	1. Aufl.
Schriftenreihe:	Selected topics of semiconductor physics and technology vol. 177
Schlagworte:	Hochschulschrift > Forschungsbericht > Rasterkraftmikroskopie > EDMR > Silicium
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Zugl.: München, Techn. Univ., Fakultät für Physik, Diss., 2014
Beschreibung:	Mit engl. u. dt. Zsfassung. - Literaturverz. S. 176 - 195
Beschreibung:	VII, 190 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:	9783941650770 978-3-941650-77-0