Electrical properties of Josephson junctions with NbXSi1-X barriers customised for AC voltage standard applications

Zugl.: Jena, Univ., Diss., 2014

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Scheller, Thomas (VerfasserIn)
Körperschaft:	Friedrich-Schiller-Universität Jena (Grad-verleihende Institution)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Göttingen Cuvillier 2014 Jena 2014
Ausgabe:	1. Aufl.
Schlagworte:	Hochschulschrift > Normal > Wechselspannung > Josephson-Kontakt > Nioblegierung > Silicium > Josephson-Effekt
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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