2013 20th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA 2013) : Suzhou, China, 15 - 19 July 2013

2013 20th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA 2013) Suzhou, China, 15 - 19 July 2013

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Institute of Electrical and Electronics Engineers (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Wang, Mingxiang (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Piscataway, NJ IEEE 2013
Schlagworte:
Konferenzschrift
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
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Beschreibung:773 S.
Ill., graph. Darst.
ISBN:9781479904792
978-1-4799-0479-2
9781479912414
978-1-4799-1241-4