2013 20th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA 2013) Suzhou, China, 15 - 19 July 2013
Gespeichert in:
Körperschaft: | |
---|---|
Weitere Verfasser: | |
Format: | UnknownFormat |
Sprache: | eng |
Veröffentlicht: |
Piscataway, NJ
IEEE
2013
|
Schlagworte: | |
Online Zugang: | Inhaltsverzeichnis |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Beschreibung: | Gaps in pagination due to formatting issues. - Literaturangaben |
---|---|
Beschreibung: | 773 S. Ill., graph. Darst. |
ISBN: | 9781479904792 978-1-4799-0479-2 9781479912414 978-1-4799-1241-4 |