Advanced atomic force microscopy techniques

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Körperschaft:	Beilstein-Institut zur Förderung der Chemischen Wissenschaften (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Glatzel, Thilo (BerichterstatterIn), Schwarz, Udo D. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Frankfurt, M Beilstein-Inst. zur Förderung der Chemischen Wiss. 2013
Schriftenreihe:	Beilstein journal of nanotechnology Thematic series Great science in nano dimensions
Schlagworte:	Rasterkraftmikroskopie
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Beschreibung
Beschreibung:	Literaturangaben. - Zusätzliches Online-Angebot unter www.bjoc.org Themenheft bestehend aus einzelnen Artikeln der ZS Beilstein J. Nanotechnol
Beschreibung:	Getr. Zählung [ca. 180 S.] zahlr. Ill. und graph. Darst. 30 cm