On the sizing of analog integrated circuits towards lifetime robustness

Zugl.: München, Techn. Univ., Diss., 2013

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Pan, Xin (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	München Verl. Dr. Hut 2013
Schriftenreihe:	Elektrotechnik
Schlagworte:	Hochschulschrift > Analoge integrierte Schaltung > Robustheit > Lebensdauer
Online Zugang:	Inhaltstext Inhaltsverzeichnis
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