Mechanismen und Größeneffekte von Ermüdungsschädigungen in dünnen Kupferfilmen bei sehr hohen Zyklenzahlen

Göttingen, Univ., Diss., 2013

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Trinks, Clemens (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Volkert, Cynthia (BerichterstatterIn), Samwer, Konrad (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: 2013
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Beschreibung
Zusammenfassung:Göttingen, Univ., Diss., 2013
Thin metal films show completely different fatigue behavior than bulk metals. The films have longer fatigue lives and instead of extrusions and complex dislocation structures, they form interface cracks and isolated dislocations during fatigue. These observations indicate a reduction in accumulated plastic strain in the films, which is likely a manifestation of their increased strength. In order to investigate thin film fatigue under conditions comparable to those present in sensors and microelectronic devices, very-high cycle fatigue behavior of supported Cu films with thicknesses between ...
Beschreibung:xi, 140 S.